
三菱電機エンジニアリング株式会社
電子デバイス事業所
LSI技術第三部 MSIG技術第二課
テスト技術グループ 浦川 大活 氏 |
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<お客様からのコメント>
私は、IGBTやMOSFET用のドライバーICのテスト立ち上げを行っています。特に600Vや1200Vの高電圧に耐えられるHVIC(ハイボルトIC)を担当しています。
HVICは主に白物家電といわれる冷蔵庫や洗濯機、エアコンの室外機の中のモータを制御するインテリジェントパワーの中で使われています。最近ではPDP(プラズマディスプレイパネル)のドライバーとしても使われています。
HVICの量産は、いかに安いコストで短いテストタイムで立ち上げるかが課題でした。
その当時600Vや1200Vの電源を測定できるテスターがなく、独自で回路設計した専用のボードで対応しようと考えましたが、量産担当者は一人で平均20〜50品種を受け持っているので、専用回路のICにトラブルが発生した場合に、短時間で対応することは難しいです。量産体制では、トラブルシュートを短時間で行わなければ生産に支障をきたしてしまいます。そこでテスターにオシロスコープを外付けすることにしました。
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