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Tested by YOKOGAWA

“SignalExplorer DL1740”は、三菱電機エンジニアリング(株)様でお使い頂いております。


三菱電機エンジニアリング株式会社
三菱電機エンジニアリング株式会社
電子デバイス事業所
LSI技術第三部 MSIG技術第二課
テスト技術グループ 浦川 大活 氏

<お客様からのコメント>

 私は、IGBTやMOSFET用のドライバーICのテスト立ち上げを行っています。特に600Vや1200Vの高電圧に耐えられるHVIC(ハイボルトIC)を担当しています。

 HVICは主に白物家電といわれる冷蔵庫や洗濯機、エアコンの室外機の中のモータを制御するインテリジェントパワーの中で使われています。最近ではPDP(プラズマディスプレイパネル)のドライバーとしても使われています。

 HVICの量産は、いかに安いコストで短いテストタイムで立ち上げるかが課題でした。
 その当時600Vや1200Vの電源を測定できるテスターがなく、独自で回路設計した専用のボードで対応しようと考えましたが、量産担当者は一人で平均20〜50品種を受け持っているので、専用回路のICにトラブルが発生した場合に、短時間で対応することは難しいです。量産体制では、トラブルシュートを短時間で行わなければ生産に支障をきたしてしまいます。そこでテスターにオシロスコープを外付けすることにしました。

“SignalExplorer DL1740”
“SignalExplorer DL1740”

 “SignalExplorer DL1740”を選んだ理由は、2チャネル間の時間差を自動的に測るメジャー機能の装備と既に横河電機製のLSIテストシステム“TS1000”を導入していたので、通信関係の対応が同じ会社でできると考えたからです。
 “DL1740”では、テスターでは測れない600Vや1200Vの電源波形を差動プローブをつけて測定しています。また、電源の立ち上がり立ち下りの信号も測定しています。今までは、不具合が発生した場合、テスターではアスキーデータしか表示されないので、量産を止めて専用治具(ボックス)を開けてから対象の信号を見なければなりませんでした。“DL1740”を外付けすることで、生産しながら波形の確認ができるので、不良の発見も早くなり、量産のトラブルシュート時間の削減につながりました。
 “DL1740”のGO-NOGO判定機能により、ICからの出力信号を自動判別し、GO-NOGOの信号を再びアスキーデータで“TS1000”に戻して“TS1000”で判断しています。

 お客様に早く商品をお届けするためには、テスト立ち上げの時間短縮が重要です。テスターと“DL1740”を外付けしたシステムは、テスト立ち上げ側でも設計側でも構築しており、同じシステムで測定、評価することによりトラブルの発生が少なくなり、テスト立ち上げ期間が短縮しました。双方のノウハウも情報交換できるので、開発効率も向上しました。
※現在はDL1740Eモデル

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