世界最大の半導体製造装置・材料の国際展示会

SEMICON Japan 2007

世界的規模で加速するユビキタス社会の下、半導体ビジネスは大きな変革の時を迎えています。
YOKOGAWAでは、「半導体の生産を変えていく～Change for the future～」を
総合コンセプトに、お客様と共にこの変革の波を乗り越え、発展していくために
半導体製造関連機器・各種ソリューションを幅広くご提供していきます。

SEMICON Japan 2007は終了いたしました

2007年12月5日（水）～12月7日（金）、幕張メッセで開催されました「SEMICON Japan 2007」に出展いたしました。本年度は、 ETS（Enterprise Technology Solutions）の下、前工程・後工程ともに連携し、弊社製品・ソリューションをご紹介させていただきました。

前工程のブースでは、MES・オンライン・EES関連のソリューションを始め、ユニークな発想による歩留まり向上・業務改善支援・アフターマーケットソリューションなどの新製品、また省エネ･環境保全ソリューションをご紹介させていただきました。開催当日は、ご来場いただいた多くのお客様より貴重なご意見・ご要望を頂戴することができました。

後工程のブースでは、DRAM/FLASHメモリテスタ、FPDドライバテスタ、ハンドラ、半導体計測評価システムなどを幅広く展示し、ご紹介するとともに、次世代SoCテストソリューションの共通プラットフォームを参考出品いたしました。開催当日は、後工程にご来場いただいたお客様に、「テスタ」だけでなく、トータルソリューションを提供していることを知っていただくことができ、また、「今後、YOKOGAWAの総合力に期待しています」という有難いお言葉を頂戴することができました。

横河は、今後も製造現場での経験を活かし、あらゆる面でお客様をサポートできますようトータルソリューションをご提供していきます。製造に関してお悩みがありましたら、弊社営業または、代理店までご相談いただければ幸いです。

開催当日は、両ブースとも多くのお客様にご来場いただくことができ、大変盛況のうちに終了することができました。快晴ではありましたが冬空の肌寒い中、またお忙しい中ご来場いただき誠にありがとうございました。この場をお借りし厚く御礼申し上げます。

2007年12月

出展内容

会　期	2007年12月5日（水）～12月7日（金）　10:00～17:00
会　場	幕張メッセ（日本コンベンションセンター）
ブース位置	３Ａ－１０５（前工程）, ９Ｃ－９０９（後工程）
セミナー	（１）12月5日（水）　13:00～14:20　【ルーム２】　「Wafer Sleuth －歩留低下要因を顕在化する解析システム－」（２）12月7日（金）　11:30～12:20　【ルーム２】　「予備品在庫計画の標準化により、　　　　稼働率の向上とメンテナンスコストの削減を同時に実現！」
出展製品 [前工程]	・ERPソリューション　CIMVisionPMS(MCFrame) ・製造工程管理（MES）ソリューション　CIMVision-semi ・装置オンライン化ソリューション　CELLBrain, EQBrain ・装置効率向上（EES）ソリューション　e-fabDoctor Passport ・装置効率向上（EES）ソリューション　e-fabDoctor FDC ・レシピ管理ソリューション　e-RecipeSTORE ・コスト管理ソリューション　Profitclue ・エネルギー管理ソリューション　Enerize ・歩留まり向上ソリューション　Wafer Sleuth ・製造業向けワークフローシステム　flusso ・アフターマーケットソリューション　・省エネ・環境保全ソリューション
出展製品 [後工程]	・メモリテストソリューション－PC用DRAM前工程テストソリューション－AViPSソリューション・SoCテストソリューション－次世代SoCテストソリューション（オープンステージてにテスト革新をご提案）・FPDテストソリューション－多ピン・高速ドライバICテストソリューション－TCP/COF対応テストソリューション・ISテストソリューション－CISテストにおける画像処理ソリューション－開発環境デモンストレーション・特性試験ソリューション－半導体デバイスの静特性試験－入出力特性試験－ミクスドシグナルの解析後工程詳細はこちら
お申込み	開催は終了いたしました。