2004年12月9日発表

  横河電機株式会社（本社：東京都武蔵野市中町2－9－32　社長：内田　勲　資本金：323億600万円）は、DDR1／DDR2 SDRAMをターゲットとした、低価格な後工程用高速メモリテスタ「MT6092　メモリテストシステム」を開発、2005年1月から販売を開始しますので、お知らせします。

開発の背景

　パソコンなどに使用されるDRAMは、高速データ転送が可能なDDR SDRAM* が主流となっています。動作速度最大400MbpsのDDR1はもとより、2003年から量産が始まったDDR2が、DRAM市場のほぼ90％を占めるまでになっています。
  当社は従来、１Gbpsまで対応できる高速メモリテスタ「AL6095 」を販売、好評を得てきましたが、メモリデバイス市場は、現在はもとより今後もDDR1／DDR2がボリュームゾーンを形成し、テストコストの低減がポイントとなっています。このため、当社ではさらに高速のテスタの開発を進めるとともに、DDR1／DDR2を効率よくかつ低コストで試験できるテスタを開発してきました。
  今回発売する「MT6092」は、このボリュームゾーンのDRAMをターゲットとした量産用後工程高速メモリテスタです。

(*) DDR SDRAM：DDRはDouble Data Rateの略で、SDRAM（Synchronous DRAM）の代表的高速化手法。動作速度により、DDR1（最大400Mbps）、DDR2（最大800Mbps）、DDR3（最大1.6Gbps程度）がある。

 

製品の特長
　

１．		128個の並列測定 Common ドライブ方式* により、×8bitデバイスを128個／system同時測定が可能です。 ×16bit品では64個、×32bit品は32個／system並列測定できます。 (*)Commonドライブ方式：測定対象デバイスのドライバ専用ピンをｎ個同時に駆動する方式 ドライバピン、データ入出力ピンともステーション当たり最大各768ピン
２．		従来製品の半分の低価格で大量生産品を効率測定 ボリュームゾーンのDDR1／DDR2 SDRAMを低コストで効率よくテストするため、最高動作周波数を800MHzに抑え、低価格を実現しました。従来製品の「AL6095」のほぼ半分の価格となっています。

 

【　主な市場　】
　メモリデバイスメーカ

【　用　　　途　】
  SRAM、DDR-SDRAM、DDR2等の高速メモリデバイスのファイナルテスト

【　販売目標（海外での販売を含む）　】
　2004年度　　  30台
　2005年度　  100台　

以上

 

●本製品に関するお客様からのお問い合わせ・資料請求先：
   半導体テストソリューション事業部　
　 TEL：0422－52－9770　　FAX：0422－52－2159