2004年11月29日発表

  横河電機株式会社（本社：東京都武蔵野市中町2－9－32　社長：内田　勲　　資本金：323億600万円）は、DRAMからNAND型／NOR型フラッシュメモリまで対応するメモリテスタ「MT6060　メモリテストシステム」を開発、2005年1月から販売を開始しますのでお知らせします。
  「MT6060」は、姉妹機であるAL6050メモリテストシステムに比べ同時測定個数を倍増してスループットを向上させたほか、需要の増大しているフラッシュメモリ測定機能を強化した製品です。

開発の背景

　メモリデバイスの市場は、携帯電話などのモバイル機器向けで、フラッシュメモリの需要が拡大を続けています。特にNAND型フラッシュメモリの伸びは著しく、新規メーカの参入もあり、競争が激しくなっています。このため、各メーカは一層のコスト削減を迫られており、デバイスにかけるテストコストを削減する必要があります。
  当社の従来製品「AL6050 メモリテストシステム」は、1台でDRAMやSRAM、フラッシュメモリに対応することができ、高価な専用機に比べたコストパフォーマンスの高さが、デバイスメーカから評価されています。
「MT6060」は、AL6050の測定機能をさらに強化し、フラッシュメモリのテストスループットを2倍に向上させるなど、一層のテストコスト削減に寄与する製品です。

 

製品の特長
　

１．		パーサイトメモリ搭載 パーサイトメモリを搭載したことで、測定デバイス単位で異なるテストパターンを実行することが可能です。1回のテストで、デバイスごとに目的の異なるテストを実行することで、テスト効率が向上します。
２．		同時測定個数2倍 NAND／NORフラッシュメモリの同時測定個数は512個と、当社従来製品に比べ、2倍のスループットを達成しました。
３．		駆動電圧の高いNOR型フラッシュの多ピン化に対応 NAND型に比べ駆動電圧が高いNOR型フラッシュメモリのピン数増加に　　対応するため、1デバイス当り20の高電圧ドライブピンを搭載しました。

 

【　主な市場　】
　メモリデバイスメーカ

【　用　　　途　】
  NAND 型フラッシュ、NOR型フラッシュ、PSRAM、DRAM、SRAMなどのメモリデバイスのウエハテスト

【　販売目標　】
　2004年度　　  60台
　2005年度　  200台　

以上

 

●本製品に関するお客様からのお問い合わせ・資料請求先：
   半導体テストソリューション事業部メモリデバイスセンター
　 TEL：0422－52－9770　FAX：0422－52－2159