2003年9月30日発表

　横河電機株式会社（本社：東京都武蔵野市中町2－9－32　社長：内田　勲　資本金：323億600万円）は、IEEE（米国電子技術者協会）で標準化されたテストデータ記述言語STIL（スタイル：StandardTestInterfaceLanguage）を導入し、世界初の画期的なテスト・オープンシステム「STIL／TestHighway（スタイル／テストハイウェイ）」を開発しました。
　これにより、従来ばらばらであったEDAツール，故障解析ツール，各種テスタ間をシームレスに融合することと、テスト言語を統一化することで、システムLSIの開発からテストまでの回転期間（Turn Around Time：TAT），故障解析のTATを大幅に短縮，テストコストを削減することができます。

　この「STIL／TestHighway」は、当社が提唱し、既に半導体大手４社10サイトで稼動中の「V☆R TestPlanner（ブイアールテストプランナー）」を包含するシステムで、さらにオープンでシームレスな環境を提供します。
　「V☆R TestPlanner」の仮想テスタ部である「PreTestStation（プリテストステーション）」は、上記４社で20コピー稼動し、エンジニアリングサンプル（ES）完成前の事前テスト検証により、テスト開発期間のTAT 2分の１以下を実現する切り札となっており、設計ミスへの早期フィードバックによるES再製作（リメーク）を極限まで撲滅することで、システムLSIの開発費削減に大きく貢献しています。（システムLSIの平均開発費１億円→５千万）。
　「PreTestStation」も、この「STIL／TestHighway」に接続され、上記メリットに加え、テストタイミングでの設計不良情報の設計へのフィードバック，解析時のEDAツールとの融合も実現しました。従来、ESの完成後でなければ不可能だったテストタイミングでの検証が、事前に可能となり、仮想検証環境での開発TAT短縮がさらに加速されます。

　当社は、「STIL／TestHighway」を2003年10月から市場へ投入し、このオープン・ソリューションを提供していきます。
　また、年１回、「PreTestStation」のユーザ事例交換を目的としたユーザ会を開催して来ましたが、これを拡大し、「STIL／TestHighway」コンソーシアムを企画し、ユーザの事例交換，テスト標準化，「STIL／TestHighway」の機能拡張の議論を行い、顧客満足の仕組み作りを目指します。

開発の背景

　近年、テスト記述言語の機種間変換によるテストTAT長期化の問題，テスタオリエンテッドな多種テストプログラムの存在による顧客プログラム財産の永続性／継続性（再利用）の問題が顕著化しています。
　このため、テストプログラムの標準化が叫ばれて来ましたが、現在利用されているSTIL言語は、各テスタメーカ依存のものとなっていて、情報の流れが一方向の機能しかないものがほとんどで、かつSTIL言語の解釈がそれぞれ異なっています。
　当社は、IEEEに準拠し、これに追従し、機能拡張し続けるSTIL言語，設計／設計技術経験の中で実績のあるSTILソフトウェアパッケージを採用し、これを部品とし「STIL／TestHighway」を開発しました。

　また、オープン化の問題では、他の半導体製造装置、環境とのオープン性という位置付けとテスタ内のオープン性という位置付けがありますが、「STIL／TestHighway」は、より付加価値の高い前者のオープン性を提供します。

「STIL」の概要

　STILは半導体テストのための、設計、シミュレーション、ATEテスト、故障解析の全ての工程・環境において共通なテストデータの記述言語として利用可能で、1999年にIEEE でStd 1450.0 として標準化されたテストデータの記述言語です。2002年12月には、IEEEでStd 1450.2も標準化され、現在は1450.1，1450.3～1450.6の標準化が進行中です。

　さらに、「STIL／TestHighway」は、当社のLSIテストシステムTS6000HシリーズへのSTIL自動生成機能を備えています。また、「PreTestStation」が接続された場合、情報の双方向の流れを実現しています。一方の流れでは、テストプログラムが検証／評価され、他方の流れでは、不良解析データが設計環境と接続されます。これにより、設計データへの実テスタで検証したタイミングでのフィードバッグがかかり、リメークの撲滅，歩留まりの早期確保が実現されます。また、テスト言語としてSTILを使用しているため、顧客のテストプログラム管理の標準化と、テストプログラム財産の永続的再利用が実現されます。

この分野における当社の取り組み

　当社は、'83年にICテスタ市場に参入し、主としてアナログテスタ、ミックスドシグナルテスタの分野で業績を伸ばしてきました。'97年には、コストパフォーマンスを重視したシステムLSIテスタ「TS6000」を市場に投入し、テストコストの削減をリードしてきました。'02年には、「TS6000H」を市場投入、
短ＴＡＴ化の時代の要請を受け、V☆R TestPlannerを市場投入しました。

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