2002年11月28日
報道関係各位
高速SoCテストシステム「TS6000H＋」、SoCテストシステム「TS600」
LCDドライバテスタ「TS670」開発・発売のお知らせ
横河電機株式会社（本社：東京都武蔵野市中町2−9−32 社長：内田 勲 資本金：323億600万円）は、当社のATEビジネスのコンセプトであるテストコストの低減を実現する新しいテストソリューションとして、新製品３機種を本日発売しますのでお知らせします。
新製品はSoCテストシステムとして好評の「TS6000H」をバージョンアップした高速SoCテストシステム「TS6000H＋（プラス）」、DFT (Design for Test) 化されたSoCのテストを低コストで実現するSoCテストシステム「TS600」、LCDドライバの多ピン化に対応するLCDドライバテスタ「TS670」の3機種です。
これらの製品で、当社が主張してきたLSIのテストコスト低減を、さらに一歩推し進める新たなソリューションを提案します。
開発の背景
あらゆる電子機器に使用されるLSIは、回路技術や加工技術の進歩により、高速化、高機能化の一途をたどっています。これらのデバイスの機能をチェックするLSIテスタに要求される機能も、より高速かつ複雑化しています。
このような要求を実現するため、LSIテスタの高速化、高機能化を進めると、どうしてもLSIテスタの価格が高くなり、LSIの価格に占めるテストコストの割合が増え続けることになってしまします。
さらに、ウエハの大型化や微細化などによるチップ単価の低下の一方、デバイス開発総コストに占めるテストコストの割合が突出して目立っています。
このようなことから、各デバイスメーカにとって、テストにかけるコストを下げることが重要な課題となっています。
当社は、テスタの高速化・高機能化とテストコスト削減を両立するため、様々なソリューションを提案してきました。今回発売する3機種では、機能の大幅アップを図ると同時に、更なる低コスト化を実現しました。その上、既存機種との完全な互換性を確保し、既存機種との併用を可能としています。これらにより、単なるテスタの低価格化にとどまらない、顧客にとってのトータルコストの削減を提案します。「TS6000H＋」と「TS600」の特長
当社と安藤電気は、2001年2月の業務提携を機に、双方の持つ技術を合わせた新たなテストソリューションの開発を進めてきました。横河の汎用ロジック、ミックスドシグナルテスト技術と、安藤の高速ロジック、メモリテスト技術をあわせて完成したのが、昨年11月に発表したSoCテストシステム「TS6000H」です。
今回発売する「TS6000H＋」は、高性能デバイスの歩留まりを良くするため、現行のTS6000Hの総合タイミング精度をさらに向上させた製品です。
また、「TS600」は、汎用のロジックデバイス・SoCを対象として、テストコストを大幅に低減することを目指した製品で、1998年の発売以来、汎用SoCテスタのデファクトスタンダードとなった「TS6000」の後継機種となるプラットフォームです。
●「TS6000H+」の特長 １．タイミング精度（OTA）向上 高性能デバイスのテストに重要な総合タイミング精度を、従来の500ps（ピコセコンド）から350psに30%高速化しました。これにより、テスタ側の能力不足により不良と判定されていたデバイスも高精度にテスト可能です。データレート750MHzとあわせ、DDR、LVDS、USB2.0 などの高速インターフェースを持つデバイスのテスト歩留まり向上に役立ちます。 ２．クラストップレベルのタイミング精度を低価格で実現 一億円近い高価な水冷タイプと同等の性能を空冷タイプで実現したことにより、低価格を実現すると同時に、設置スペースの節約やメンテナンスの容易さなどにより、トータル運用コストを含め、当社従来比２倍以上のコストパフォーマンスを達成しました。 ３．現行のTS6000Hと完全互換 お客様の持つ、テストプログラムなど様々な資産をそのまま利用できる、前モデルとの完全互換を確保しています。 ●「TS600」の特長 １．コストパフォーマンス大幅向上 コストパフォーマンス、生産性が高いとご好評を得ておりますTS6000が更なるコストパフォーマンス向上を果たしました。これまで500台を超える出荷実績をもとに、従来価格から20%を超える大幅なコストダウンを実現しました。近年ニーズが増大しているDFTデバイス用テストとしても最適です ２．多数個同時測定対応 少ピンデバイスの更なるテストコスト低減を目指し、多数個同時測定のニーズが増しています。DFT化された高機能デバイスを少ピンでテストすることも多数個同時測定のニーズを増大させています。このような多数個デバイスの同時測定に便利な電源オプションを開発しました。最大32個のデバイス電源として使用できます。 ３．スタンドアローン テストプログラムの開発用ソフトウエアを本体に実装したことで、ワークステーションなどが不要になり、スタンドアローンで使用可能です。 ４．現行のTS6000と完全互換 お客様の持つ、様々な資産をそのまま利用できる、前モデルとの完全互換を確保しています。 「TS670」の特長
「TS670」は、LCDドライバテスタとして圧倒的シェアを誇る「TS6700」の後継機種です。LCDドライバは、携帯電話用LCDのカラー化、大画面化で画素数が増えた一方、端末の小型化のためワンチップ化され、ピン数が増えています。近い将来、1000ピンを超える見込みで、これに対応するため、従来の倍近い1400ピン対応としました。また同時に、従来機種との互換性を保ちつつ、低価格化を実現しました。
１．1400ピン対応 専用ICの開発により、1400ピンまでのデバイスに対応します。（従来機種は 768ピン）ICの開発により、更なる多ピン化にも対応できます。 ２．低価格化 機能をアップしながら、価格を従来機種に比べて20％下げました。 ３．スタンドアローン テストプログラムの開発用ソフトウエアを本体に実装したことで、ワークステーションなどが不要になり、スタンドアローンで使用可能です。 ４．PDP、有機ELドライバ対応 オプションにより電流出力の有機ELや高電圧PDPドライバに対応します。
【 主な市場 】 携帯電話、デジタルカメラ、PDA、情報家電などに使用されるSoC、有機EL、PDPドライバIC 、 LCDドライバLSIの製造メーカ 【 用 途 】 SoC、LCDドライバLSIのウエハテスト、ファイナルテスト 【 販売目標 】 ・「TS6000H+」 年度 台、 年度 150台 ・「TS600」 年度 台、 年度 200台 ・「TS670」 年度 台、 年度 150台 この分野における当社の取り組み
当社は、’83年にICテスタ市場に参入し、主としてアナログテスタ、ミックスドシグナルテスタの分野で業績を伸ばしてきました。’97年には、コストパフォーマンスを重視したシステムSoCテスタ「TS6000」を発売し、テストコストの削減をリードしてきました。
LCDドライバテスタ「TS6700」は、「TS6000」をベースに、ADコンバージョン、DSP処理を行う、当時としては画期的な手法を提唱した製品です。当社LCDドライバテスタは、事実上の標準機となっています。
当社のテスタの製品コンセプトは、コストパフォーマンスの追求にあります。このため、当社は様々な新しいテストソリューションを提案してきました。
基本的な機能を搭載したプラットフォームをベースに、様々なテストに必要な機能を基板ユニットとして付加することで最適なテストを低コストで実現するY-TIP（Yokogawa Test Intellectual Property）や、回路設計の際の仮想テスト環境と量産テスト用のLSIテスタを共通プラットフォームで有機的に結合することで、開発から量産までに要する期間（TAT：Turn Around Time）を劇的に短縮する“V★R Test Planner”などは、テストコスト削減に向けた、従来にない斬新なテストソリューションです。
当社は、これらのテストソリューションをベースに、「TS6000H+」でより高速・高精度・多機能なテスタを、また「TS600」でより低価格なテスタを追求しDFT対応のテスタへと進化させていきます。
以 上
製品に関するお問い合わせ・資料請求先
テスタ事業部
TEL：0422‐52‐9770 FAX：0422‐52‐2159
